Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique: Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil

876 Pages·1960·46.971 MB·German-English

by  Ernst Ruska (auth.), W. Bargmann, G. Möllenstedt, H. Niehrs, D. Peters, E. Ruska, C. Wolpers (eds.)

VIERTER INTERNATIONALER KONGRESS
FOR ELEKTRONEN MIKROSKOPIE
FOURTH INTERNATIONAL CONFERENCE
ON ELECTRON MICROSCOPY
, ,
QUATRIEME CONGRES INTERNATIONAL
"
OE MICROSCOPIE ELECTRONIQUE
BERLIN 10.-17. SEPTEMBER 1958
VERHANDLUNGEN
HERAUSGEGEBEN VON
W. BARGMAN N . G. MOLLENSTEDT· H. NIEHRS
D; PETERS· E. RUSKA· C.WOLPERS
SPRINGER-VERLAG
BERLIN . GOTTINGEN . HEIDELBERG
1960
VERHANDLUNGEN BAND I
PHYSIKALISCH-TECHNISCHER TEIL
HERAUSGEGEBEN VON
G. MOLLENSTEDT· H. NIEHRS . E. RUSKA
MIT 1026 ABBILDUNGEN
SPRINGER-VERLAG
BERLIN . GOTTINGEN . HEIDELBERG
1960
ISBN 978-3-642-49481-9 ISBN 978-3-642-49765-0 (eBook)
DOII0.I007/978-3-642-49765-0
Alle Rechte, insbesondere das der Übersetzung in fremde Sprachen, vorbehalten.
Ohne ausdrückliche Genehmigung des Verlages ist es auch nicht gestattet, dieses
Buch oder Teile daraus aufphotomechanischem Wege (Photokopie, Mikrokopie)
zu vervielfältigen
© by Springer-Verlag OHG. Berlin . Göttingen . Heidelberg 1960
Softcover reprint of the hardcover 1s t edition 1960
Die Wiedergabe von Gebrauchsnamen,Handelsnamen,Warenbezeichnungen usw.
in diesem Werk berechtigt auch ohne besondere Kennzeichnung nicht zu der
Annahme, daß solche Namen im Sinne der Warenzeichen- und Markenschutz
Gesetzgebung als frei zu betrachten wären und daher von jedermann benutzt
werden dürfen
Vorwort
Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro·
skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im
Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie
in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa
400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Ländern
gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse
in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war
es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen
Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält
sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie
technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek·
tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein·
schließlich der Präparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des
Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Fragestellungen und über die
entsprechenden Präp arationsverfahren.
In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden,
waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen
einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen.
Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über.
sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis.
Die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation,
begrüßte mit dankbarer Anerkennung, daß der Springer. Verlag die nach Text und Illustration
umfangreichen Verhandlungen in seine Obhut nahm und insbesondere auf die Reproduktion der
elektronenmikroskopischen Abbildungen hervorragende Sorgfalt verwandte. Ein Wort besonderen
Dankes für die großzügige Förderung, die der Elektronenmikroskopie mit dieser Veröffentlichung
zuteil wurde, gilt Herrn Dr. med. h. c. Dr. phil. h. c. FERDINAND SPRINGER, Herrn Dr. phil.
HEINZ GÖTZE und ihren Mitarbeitern.
Die Herausgeber
Inhaltsverzeichnis
Eröffnungs-Ansprache Seite
Von ERNsT RUSRA 1
Opening remarks
By V. E. COSSLETT 2
Festvortrag
Geschichte des Elektrons. Von M. VON LAUE 4
A. Elektronen- und ionenoptische Elemente, Geräte und Verfahren
1. Kathoden
Über die Arbeitsweise und die elektronenoptischen Eigenschaften der Spitzenkathode. Von Y. SA·
RAKI und S. MARusE. (Mit 8 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 9
The point cathode as an electron source. By M. DREcHsLER, V. E. COSSLETT and W. C. NIXON.
(With 4 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 13
Recent progress in field emission at high current densities. By J. K. TROLAN and W. P. DYKE.
(With 5 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
Zur Frage der Stabilität der Feldelektronenemission. Von M. 1. ELINSON. (Mit 4 Abbildungen) 25
Production of square temperature waves in filaments of field emission microscopes operating at low
temperatures. By R. KLEIN . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
Massenspektrometrische Untersuchung chemischer Reaktionen mit Hilfe einer Feldemissions-Ionen·
quelle. Von H. D. BECKEY. (Mit 5 Abbildungen) . . . . . . .. . . . . . . . . . . .. 28
Diskussionsbemerkung (zu Beitrag H. D. BECKEY S. 28) Von M. VON ARDENNE . . . . . .. 35
Messungen an Elektronenstrahlerzeugern. Von H. BOERSCH und G. BORN. (Mit 10 Abbildungen) 35
Der Boersch·Effekt und ein Ansatz zu seiner theoretischen Deutung. Von FRIEDRICH LENz 39
Potential well modulation of electron beams. By L. JACOB. (With 3 Figures) 40
Versuche an einer Gasentladungskathode. Von MAX HAHN. (Mit 3 Abbildungen) 42
2. Linsen und Ablenksysteme
Ein kombiniertes Integriergerät zur genaueren Berechnung der Felder elektronenoptischer Abbil
dungssysteme. Von G. W. DER· SCHWARZ. (Mit 4 Abbildungen). . . . . . . . . . . . . . . 45
Über eine Zusatzlinse zur Kompensation der Farbabhängigkeit der Vergrößerung im elektrostati
schen Elektronenmikroskop. Von W. WEITSCH. (Mit 4 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . 48
The development of the lens system in the Hitachi electron microscope. By N OZOMU MORITO, BUNYA
TADANO and SHINJIRO KATAGIRL (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
Permanent magnet lens systems and their characteristics. By HIROKAZU KIMURA and Y OSHIO
KIKUCHL (With 8 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
Mesure et correction de l'aberration d'ouverture des lentilles quadrupolaires magnetiques. Par
ALBERT SEPTIER. (Avec 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
Stigmatoren für ein Mehrlinsen.Mikroskop. Von P. A. STOJANOW. (Mit 9 Abbildungen) . 61
Ein elektrostatischer Feinstrahlkondensor. Von EBERHARD HAHN. (Mit 3 Abbildungen) 66
Elektronenoptisches System zur Herstellung feiner Elektronensonden. Von T. MULVEY.
(Mit 3 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
An electrostatic·electromagnetic alignment section for the electron microscope. By M. E. HAINE,
A. W. AGAR and T. MULVEY. (With 4 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
3. Objekteinrichtungen
Ein Präparattisch mit universeller Bewegungseinrichtung. Von W. D. RIECKE. (Mit 3 Abbildungen) .74
A protection shutter for the specimen in the electron microscope. By NOBUJI SASAKI, Ryuzo
UEDA and NOBORU ARAL (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
Gas reaction on the specimen. By K. HIZIYA, H. HASHIMOTO, M. W ATANABE and K. MIHAMA.
(With 3 Figures) .................................. 80
Eine Kammer für die Untersuchung von Objekten mit Gasumgebung. Von 1. G. STOJANOWA.
(Mit 5 Abbildungen) ............................ 82
Die Objektverschmutzung und ihre Verhütung. Von H. G. HEIDE. (Mit 3 Abbildungen). . . . . 87
Inhaltsverzeichnis VII
Seite
Improvement of the specimen cooling device for the electron microscope. By M. W ATANABE,
I. OKAZAKI, G. HONJO and K. MIHAMA. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
Improvement of the specimen heating device for the electron microscope. By I. OKAZAKI, M. WATA
NABE and K. MIHAMA. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
A high temperature stage for the Elmiskop I. By M. J. WHELAN. (With 6 Figures) . . . . . . . 96
Experimentelle Untersuchung der thermischen Einwirkung des Elektronenstrahls auf das Objekt im
Elektronenmikroskop. Von I. G. STOJANOWA und E. M. BELAWZEWA. (Mit 6 Abbildungen) 100
4. Bildaufzeichnungsverfahren
Verwendung eines Bildverstärkers zur Leuchtdichte-Steigerung des Bildes im Elektronenmikroskop.
Von V. G. NIRIKOFF, J. M. KUSCHNIER, M. M. BUTSLOFF und G. A. BORDOWSKY. (Mit 1 Abbildung) 103
Hochauflösende Leuchtschirme für die Elektronenmikroskopie. Von R. BROSER-W ARMINSKY und
E. RUSKA. (Mit 5 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
Kornlose und höchstauflösende Fixierung von lonen- und Elektronen-Bildern. Von R. SPEIDEL.
(Mit 3 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . UO
Die informationstheoretische Grenze bei der Abbildung lebender Substanz im Elektronenmikroskop
und über Möglichkeiten zur Annäherung an die Grenze. Von M. VON ARDENNE. (Mit 5 Ab-
bildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
Eine einfache Sonde zur Bestimmung von Elektronenstrahlintensitäten am Endbildschirm von
Übermikroskopen. Von E. DENGEL, F. GRASENICK und E. JAKOPIC. . ........... U6
o.
Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze)
Das Verhalten photographischer Schichten bei Elektronenbestrahlung. Von H. FRIESER, E. KLEIN
und E. ZEITLER. (Mit 8 Abbildungen). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. U6
Elektronenvielfachstreuung in photographischen Emulsionen. Von FRIEDRICH LENZ. (Mit 5 Ab-
bildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 125
Punktauflösung von extrem feinkörnigen und extrem empfindlichen Photoemulsionen. Von
A. M. D'ANs, E.-G. BERGANSKY und G. TOCHTERMANN. (Mit 2 Abbildungen) ........ 127
The effect of grain of photographic emulsion on the resolution of an electron microscope. By KAZU
HIKO AKASHI, TATSUNOSUKE MAsuDA, HIRosm TOCHIGI, KAN YAMANoucm and EMIKO IGUCH!.
(With 4 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
The decomposition of silver azide by electrons. By M. CAMP. (With 3 Figures) . . . . . . . . . 134
Extruded silver filaments. By I. S. KERR. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . 138
Cinematographic studies on the interaction of electrons with microcrystals of silver iodide. By R. W.
HORNE and R. H. OTTEWILL. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
Neue elektronenmikroskopische Untersuchungen zum Mechanismus der photographischen Ent-
wicklung. Von E. KLEIN. (Mit 3 Abbildungen) ................... 143
6. Stereoaufnahme
Stereoscopy and resolution in electron microscopy. By TH. F. ANDERsoN ........... 146
Präparative Hilfsmittel zur quantitativen Auswertung elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen.
Von H. GROTHE, E. KNOBLING und G. ScmMMEL. (Mit 3 Abbildungen) ........... 146
Methoden und Ergebnisse von Ausmessungen elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen mit
dem "Elmigraph I". Von K. BOGEN, J.-G. HELMCKE und G. WEIMANN. (Mit 3 Abbildungen) . 149
Ein einfaches Verfahren zur Auswertung elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen. Von
G. POHLMANN. (Mit 2 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 152
7. Vakuum, Strahlspannung, Linsendurchflutung
Neue Gesichtspunkte bei der Gestaltung von Hochvakuumanlagen in der Elektronenmikroskopie.
Von R. A. HAEFER. (Mit 3 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154
Objektverschmutzung durch Kohlenwasserstoffe als vakuumtechnisches Problem. Von K.-H.
MIRGEL. (Mit 7 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
Über eine einfache elektronische Hochspannungsquelle für 50 kV mit hoher Konstanz. Von H.
EVERDING . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160
Meßgeräte zur Untersuchung der Schwankungen von Hochspannung und Linsenstrom beim Elektro
nenmikroskop mit elektromagnetischen Linsen. Von A. ENGEL, H. EVERDING und O. WOLFF.
(Mit 4 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 162
8. Durchstrahlungsmikroskope
A new high voltage (350 kV) universal electron microscope and its applications. By K. KOBAYASHI,
E. SUITO and S. SHIMADZU .............................. 165
Ein 300-kV-Elektronenmikroskop und einige Ergebnisse seiner Anwendung für verschiedene For
schungszwecke. Von B. TADANO, S. KATAGIRI, K. ICHIGE, Y. SAKAKI und S. MARusE. (Mit 3 Ab
bildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166
VIII Inhaltsverzeichnis
Seite
A two-stage electron microscope using a pointed filament. By T. HIBI and S. TAKAHASHI. (With
3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
Some design features of a new Philips Electron Microscope. By A.C. v AN DORSTEN and S. L. V AN
DEN BROEK. (With 3 Figures) ............................. 171
Ein 70-kV -Elektronenmikroskop mit kalter Kathode und elektrostatischem Objektiv. Von M. GRIBI,
M. THÜRKAUF, W. VILLIGER und L. WEGMANN ..................... 174
The new electron microscope "Tronscope TRS-50" Part I: Construction. By KAZUHIKO AKASHI
and TATSUNOSUKE MAsuDA. (With 3 Figures) ...................... 174
The new electron microscope "Tronscope TRS-50" Part II: Method of alignment and inspection.
By KAZUHIKO AKAsHI, TATSUNOSUKE MAsuDA and HIROSHI TOCHIGI. (With 5 Figures) . . . . 177
Ein vereinfachtes 50-kV-Elektronenmikroskop. Von A. STROJNIK. (Mit 3 Abbildungen) ..... 182
Ein Hilfselektronenmikroskop für Kurs- und RoutinebeLrieb. Von K. MÜLLER und E. RUSKA.
(Mit 2 Abbildungen) . . . . . . _ . . . . . . . . . . . . 184
An improved operating method for the Siemens Elmiskop 1. By G. A. MEEK. (With
2 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 187
Über eine neue Einrichtung zur Feinstrahlbeugung. Von W. D. RIECKE. (Mit 5 Abbildungen) 189
9. Reflexions- und Emissionsmikroskopie
The examination of single crystals by reflection electron microscopy. By J. S. HALLIDAY and R.
C. NEwMAN. (With 3 Figures) . . . . . . . . ~ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195
a
Microscopie electronique emission secondaire et microscopie electronique par reflexion: developpe
ments recents. Par CHARLES FERT, FERDINAND PRADAL, ROBERT SAPORTE et RENE SIMON.
(Avec 6 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197
Über ein Elektronenmikroskop und ein Verfahren zur direkten Sichtbarmachung von isolierenden
Oberflächen. Von G. BARTZ. (Mit 8 Abbildungen) .................... 201
a a
Association d'un microscope emission et d'un diffractographe reflexion. Par R. ARNAL. (Avec
3 Figures) ..................................... 207
Neuere emissionsmikroskopische Erfahrungen mit Ionen-, Elektronen- und UV-ausgelösten Elek-
tronen. Von G. MÖLLENSTEDT. (Mit 4 Abbildungen) ................... 208
Ein Elektronen-Emissions-Mikroskop für metallkundliche Anwendungen. Von G. MÖLLENsTEDTund
H. DÜKER. (Mit 2 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212
a
Microscopie emission ionique negative. Par RENE BERNARD et ROBERT GOUTTE. (Avec 4 Figures) . 215
Über einige anwendungstechnische Erfahrungen mit einem Emissions-Mikroskop. Von H.
BETHGE, H. EGGERT und K. HERBOLD. (Mit 7 Abbildungen). . . . . . . . . . . . . . . . 217
Über einige Probleme der Reflexionsmikroskopie. Von J. M. KUSCHNIER und G. W. DER-SCHWARZ.
(Mit 15 Abbildungen). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222
10. Interferenzmikroskopie und Interferometrie
Biprisma-Interferometer für Elektronenwellen und seine' Anwendung zur Messung von inneren
Potentialen. Von M. KELLER. (Mit 3 Abbildungen) .................... 230
Elektronen-Intcrferenz-Mikroskopie. Von R. BUHL. (Mit 3 Abbildungen) ........... 233
Interferometrie electronique et microscopie electronique interferentielle. Par CHARLES FERT et J EAN
FAGET (Avec 4 Figures) ............................. 234
11. Röntgen-Projektionsmikroskopie
The projection X-ray microscope and related microanalytical techniques. By V. E. COSSLETT.
(With 12 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239
X-ray microscopy using point sourees. By W. C. NIxoN. (With 6 Figures) . . . . . . . . . . 249
Selection of spectra for X-ray microscopy. By 1. 1. BESSEN. (With 3 Figures) . . . . . . . . . 254
Contrast improvement in X-ray projection microscopy. By ONG SING POEN and J. B. LE POOLE.
(With 3 Figures) .................................. 257
Untersuchungen über das Röntgenstrahlmikroskop vom Standpunkt der Informationsübertragung.
Von GÜNTHER LANGNER. (Mit 5 Abbildungen) ..................... 259
12. Elektronen- und Röntgen-Rastermikroskopie
An X-ray micro-analyzer of improved design. By T. MULVEY. (With 3 Figures) . . . . . 2(53
Microanalysis with the X-ray scanning microscope. By P. DUNcuMB. (With 3 Figures) . . . . . . 267
Recent developments in scanning electron microscopy. By T. E. EVERHART, K. C. A. SMITH,
O. C. WELLS and C. W. OATLEY. (With 4 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 269
Microscopie electronique par balayage. Par RENE BERNARD et FRANQOIS DAVOINE. (Avec 5 Figures) 273
13. Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen
Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen. Von K. H. STEIGERWALD. (Mit 4 Abbildungen) 276
Herstellung feiner Fräsungen mit Elektronen-Strahlen. Von F. SCHLEICH. (Mit 3 Abbildungen) 278
Inhaltsverzeichnis IX
B. Einwirkung des Objekts auf Strahl und Bild Seite
1. Streuung am Objekt und Bildkontrast
Characteristic energy losses of electrons. By L. MARTON, L. B. LEDER, C. MARTON, H. MEND
LOWITZ, J. A. SIMPSON, J. A. SUDDETH and M. D. WAGNER. (With 7 Figures) . . . . . . . . . 281
Über den Einfluß der unelastisch gestreuten Elektronen auf den Flächenkontrast im Elektronen-
mikroskop_ Von WERNER LIPPERT. (Mit 3 Abbildungen) .................. 288
Messung der elastischen und unelastischen Streuverteilung mittelschneller (15-50-keV -) Elektronen
mit Hilfe der Gegenfeldmethode. Von M. HORSTMANN, G. MEYER und H. RAETHER. (Mit 4 Ab-
bildungen) ..................................... 290
A simple method of estimating the screening radius of an atom. By D. L. BHATTACHARYA . . . . . 293
Die Streumatrix für die Elektronenbeugung an durchstrahlten Kristallplatten und ihre Verwendung
für die Berechnung elektronenoptischer Kristallgitterbilder. Von H. NIEHRS. (Mit 1 Abbildung). . 295
The variations in background intensity of electron diffraction patterns. By J. S. HALLIDAY.
(With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . 297
The contrast of transmission electron diffraction patterns. By J. S. HALLIDAY. (With 3 Figures) 300
Low voltage electron microscopy. By W. C. NIXON_ (With 2 Figures) . . . . . . . . . 302
Bildentstehung und Bildkontrast. Von FRIEDRICH LENZ . . . . . . . . . . . . . . . .. 306
Electron phase microscope. By KOICHI KANAYA and HISAZO KAWAKATSU. (With 5 Figures) " 308
Kritisches zu gewohnten Auffassungen über Kontrastentstehung. Von H. NIEHRS. (Mit 5 Abbil-
dungen). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . _ . . . 316
2. Abbildung von Kristallgitter-Perioden
Observations on crystallattices and imperfections by transmission electron microscopy through thin
films. By J. W. MENTER. (With 13 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 320
Theoretical interpretation on the electron microscopic image of crystallattice and its moire pattern.
By H. HASHIMOTO, T. NAIKI and M. MANNAMI. (With 3 Figures) .............. 331
The direct observation of the long period of the ordered alloy CuAu(lI) by means of electron micro
scope. By SHIRO OGAWA, DENJIRO WATANABE, HIROSHI WATANABE and TsuToMu KOMODA.
(With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 334
Observations on order-disorder and domain structures in thin films of copper-gold alloys. By A. B.
GLOssoP and D. W. PASHLEY. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 336
Electron microscopic observation of periodie structure. By Y OSHIHIRO KAMIYA, MINORU N ONOYAMA,
HIROSHI TocHIG! and RYOZI UYEDA. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 339
Electron microscopy of ribonuclease crystals. By I.M.DAWSON and D.H. WATSON. (With2 Figures) 342
Observations at high resolution on several indanthrene dyes. By R. W. G. WYCKOFF and L. W.
LABAW ....................................... 344
Zum Einfluß von Bildfehlern und Beleuchtung auf die Abbildung von Kristallstrukturen. Von P.
SCHISKE. (Mit 2 Abbildungen) ............................. 346
Modellversuche zur Beugung und Abbildung gestörter Gitter. Von H. BOERSCH und K. KLATT. (Mit
5 Abbildungen) ................................... 350
3. Mehrfachbeugung am Objekt und Entstehung von Moires
Moire patterns from metal lattices. By G. A. BASSETT, J. W. MENTER and D. W. PASHLEY. (With
3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353
Electron microscopic and diffraction studies of superimposed lamellar crystals. By EIJI SUITO and
NATSU UYEDA. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 355
Mehrfachbeugung und Moire bei orientiert verwachsenen Kristalldoppelschichten. Von J OACHIM
STABENOW. (Mit 6 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 359
Moire patterns and other crystallinity effects in the electron microscopy of polyethylene single
crystals. By F. C. FRANK, A. KELLER and A. W. AGAR. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . 363
The structural significance of moire patterns. By W. C. T. DOWELL, J. L. FARRANT and A. L. G.
REEs. (With 4 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 367
Zur Theorie der Moire-Muster. Von OTTO RANG. (Mit 4 Abbildungen) ............. 371
c. Elektronenmikroskopische Präparationstechnik *
1. Trägerfolien
Stable substrates on annular dises. By W. C. T. DOWELL. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . 375
The use of charged polymers for supporting films for the electron microscopy of macromolecules.
By M. S. C. BIRBECK. (With 3 Figures) ...... . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 377
The mechanical strength of thin films under electron bombardment. By E. SUGATA, H. YOKOYA arid
K. KITAKAZE. (With 3 Figures) ............................ 379
* Die speziell biologischen Präparaten zugehörige Technik, insbesondere Mikrotomie, siehe Band 11, S. 1 ff.
x Inhaltsverzeichnis
2. Dünne Objektschichten Seite
Einfluß verschiedener Präparationsmethoden auf die Korngrößenverteilung von feindispersen Sub-
stanzen. Von E. KIRSTE und H. MAHL. (Mit 4 Abbildungen) ................ 381
a
La technique des coupes ultra-minces appliquee l'etude des charbons. Par S. PREGERMAIN avec la
collaboration de C. GUILLEMOT. (Avec 8 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 384
Nouvelle methode de preparation de films metalliques minces et applications en metallurgie. Par
N. TAKAHAsIDetK. ASIDNUMA. (Avec3Figures) ..................... 387
Une methode rapide d'amincissement des echantillons metalliques et quelques unes de ses applications
en metallographie. Par ADRIEN SAULNIER et PAUL MIRAND. (Avec 3 Figures) ........ 390
Oxydation dünner Metall- und Fluoridschichten im Elektronenmikroskop. Von ERNST ZEHENDER.
(Mit 2 Abbildungen). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 393
3. Oberflächen
Cathodic etching in a magnetic field. By C. J. CALBICK. (With 5 Figures) ........... 396
a
Le decapage ionique applique la diffraction electronique par reflexion. Par S. STEINEMANN et
J.-J. TRILLAT. (Avec 1 Figure) ............................ 401
Ionenätzung im Elektronendiffraktographen. Von M. GRIBI und L. WEGMANN. (Mit 6 Abbildungen) 403
Über Grenzflächenreaktionen zur Entwicklung von üblicherweise im Abdruck nicht erkennbaren
Oberflächenstrukturen. Von H. BETHGE. (Mit 7 Abbildungen) ........... 4,09
Influence du bombardement ionique sur certaines structures superficielles. Par K. MIHAMA (Avec
4 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 414
Einfluß des Ätzvorganges auf die Gefügewiedergabe im elektronenmikroskopischen Bild. Von
ANGELICA SCHRADER. (Mit 3 Abbildungen) ...................... 418
a
Reactif d'attaque ameliore des aciers destine la microscopie electronique. Par 1. EGUCID. (Avec
3 Figures) . . . . . . . . . . . . . .. ...................... 420
4. Aufdampf- und Abdruckverfahren
Energy of particles ejected during evaporation of carbon. By C. J. CALBICK. (With 2 Figures) 422
Methods for the preparation and electron microscopical observation of dispersed colloidal heavy metal
particles. By A. C. V AN DORSTEN ........................... 426
Beschreibung einer Apparatur zur Herstellung dünner Schichten aus Gasentladungen bei Drucken
von kleiner als 10-3 Torr und tiefen Temperaturen. Von F. GRASENICK und O. REITER ..... 427
Methodik der elektronenmikroskopischen Untersuchung temperaturempfindlicher Präparate. Von
S. GESSNER, F. GRASENICK, H. HORN und O. REITER . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 427
A new approach to the problem of high resolution shadow-casting: The simultaneous evaporation of
platinum and carbon. By D. E. BRADLEY. (With 3 Figures) ................ 428
Ergebnisse bei der Untersuchung von Abdrucken geringer Eigenstruktur. Von ERNST BAUER, BERND
FRITZ und ERNsT KINDER. (Mit 4 Abbildungen) ... . . . . . . . . . . . . . . . . . . 430
The rigidity of carbon replicas in relation to surface topography. By J. F. N ANKIVELL. (With 3 Figures) 433
Eine Technik der Replica-Herstellung von Kohlenstoffstählen durch unmittelbare Verdampfung von
Kohle und ihre Eignung für das Studium der Martensit-Zersetzung. Von A. CAMUNAS. (Mit 2 Ab-
bildungen). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 436
On a high resolution pre-shadowed carbon replica method and its direct stripping technique. By
AKIRA FUKAMI. (With 4 Figures) ............................ 438
The replication ofradioactive metal surfaces. By J. A. COILEY, P. A. E. CLARK and B. F. SHARPE.
(With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 440
A two-step replica method in electron microscope investigation of the structure of porous aluminium
oxide pellets. By L. Moscou. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 444
Abbildung von Verteilungszuständen in kompakt-dispersen Körpern. Von H.-W. KOHLSCHÜTTER
und G. KÄMPF .................................... 446
D. Ergebnisse der Elektronenmikroskopie in der Technologie (Kristallographie, Metallographie, Chemie)
1. Kristallgitter-Strukturen
Über die Genauigkeit von Gitterkonstantenmessungen mit Elektroneninterferenzen.
Von K. MEYERHOFF. (Mit 2 Abbildungen) ....................... 447
Studies in crystal structure using electron diffraction of single crystals. By J. A. GARD, H. F. W.
TAYLOR and L. W. STAPLES. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 449
Electron microscopic and diffraction studies of the aged AgI sol. By S. N. CHATTERJEE.
(With 7 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 453
The diamond to graphite transformation. By M. SEAL. (With 4 Figures) . . . . . . . 455
Orientation de microcristaux deposes sur mica. Par R. ZOUCKERMANN. (Avec 5 Figures) 460
2. Kristallwachstum
Untersuchungen an sehr dünnem Blattgold. Von E. BRÜCHE und K.-J. SCHULZE.
(Mit 5 Abbildungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 462
Inhaltsverzeichnis XI
Seite
An electron microsc9pical study: The structure and morphology of ultramicroscopic dendrites of
alpha iron. By JOHN H. L. WATSON. (With 4 Figures) .................. 464
An electron microscopical study: Some effects of magnetic field upon single, anisotropic alpha iron
crystals and the relation between their fine structure and magnetic properties. By JOHN H. L.
WATSON and MICHAEL W. FREEMAN. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 467
The role of electron microscopy in the development of a new science "Crystallurgy". By MICHAEL
W. FREEMAN and JOHN H. L. WATSON. (With 6 Figures) . . . . . . . . . . . . . . 472
Übermikroskopische Strukturuntersuchung von zwei Legierungen für permanente Magnete.
Von J. J. DE JONG, J. M. G. SMEETS und H. B. HAANSTRA. . . . . . . . . . . . . 476
Cinematographic study of the growth process of oxide crystals in the electron microscope.
By H. HASHIMOTO, K. TANAKA, K. KOBAYASHI, S. SHIMADZU, T. NAIKI and M. MANNAMI.
(With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. 477
Electron microscopic and diffraction study on the progress of reduction of tungsten trioxide.
By NOBU"JI SASAKI and Ryuzo UEDA. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . .. 479
A study of an oxide-coated cathode with the electron microscope. By E. SUGATA and S. NAKAMURA.
(With 4 Figures) ................................... 484
3. Kristalloberflächen
Electron microscopic observation of alkali-halide crystals at low temperature. By T. HIBI and
K. YADA. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 487
Microstructure in ammonium dihydrogen phosphate crystals induced by clays during growth.
By J. J. COMER. (With 3 Figures) ........................... 490
Elektronenmikroskopische Untersuchung der Spaltflächen von Indiumantimonid-Einkristallen.
Von ANTONI FELTYNOWSKI und LUDWIK GORSKI. (Mit 11 Abbildungen) .......... 494
Electron optical investigation and electron microscopy of the domain structure of ferroelectric
single crystals. By G. V. SPIVAK, E. IGRAS and 1. S. ZHOLUDYEV. (With 8 Figures) . . . . . . 502
4. Kondensierte Schichten
Wachstum von Alkalihalogeniden bei Bekeimung. Von W. WILKENS. (Mit 3 Abbildungen) ... 506
Nouvelle methode d'etude par microscopie electronique de la structure superficielle des faces de
clivages d'halogenures alcalins. Par C. SELLA, P. CONJEAUD et J. J. TRILLAT. (Avec 4 Figures) 508
Nucleation of evaporated metallayers on single crystal substrates. By G. A. BASSETT.
(With 3 Figures) .................................. 512
Elektronenoptische Untersuchung zur Kristallisation von dünnen Aufdampfschichten aus halb-
leitenden Verbindungen. Von LUDWIG REIMER. (Mit 2 Abbildungen) ............ 515
The structure of evaporated carbon films. By ANNA COSSLETT and V. E. COSSLETT. (With 5 Figures) 518
Untersuchungen über den Ursprung von spontanen Bedeckungen auf Silberaufdampfschichten.
Von KARL-JOSEPH HANSZEN. (Mit 2 Abbildungen) .................... 520
Oberflächenabdrücke von elektrolytisch niedergeschlagenen Kupfer- und Silberschichten mit ein
gebauten organischen Fremdstoffen. Von MANFRED AUST und LUDWIG REIMER. (Mit 3 Abb.) 522
Elektronenoptische Untersuchungen an dünnen, elektrolytisch niedergeschlagenen Nickelschichten.
Von E. FUCHS, A. POLITYCKI und H. PFISTERER. (Mit 2 Abbildungen) . . . . . . . . . . . 525
5. KristaIlbau-Fehler und Versetzungen
A theory of Bragg diffraction phase contrast due to defects in crystals observed by transmission
electron microscopy. By P. B. HIRSCH, A. HOWIE and M. J. WHELAN. (With 13 Figures) . . . 527
Comparison of dislocation arrangements and movements in a number of metals. By P. B. HIRSCH,
P. G. PARTRIDGE and H. TOMLINSON. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . 536
Dislocation interactions in stainless stee!. By M. J. WHELAN. (With 8 Figures) 539
Recrystallization of cold rolled nickel. By W. BOLLMANN. (With 3 Figures) . . 544
Dislocation loops in quenched aluminium and gold. By J. SILCOX. (With 3 Figures) 548
A transmission microscope study of uranium. By J. SILCOX. (With 3 Figures) . . . 552
A transmission electron microscope study of thin foils of copper. By E. VOTAVA and A.
FOURDEUX. (With 4 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 556
Experimental techniques for the plastic deformation of metal foils in the electron microscope.
By H. G. F. WILSDORF, L. CINQUINA and C. J. VARKER. (With 2 Figures) . . . . . . . . . 559
Versetzungsanordnungen in oe-Messing. Von J. D. MEAKIN, R. SUN und H. WILSDORF ..... 562
Observations on thin metal films during controlled deformation in the electron microscope. By D. W.
PASHLEY. (With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 562
Deformation of oriented thin films on solid substrates. By D. R. BRAME and T. EVANS. (With
3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56;,
a
Chauffage et deformation des echantillons minces metalliques l'interieur d'un microscope electro
nique. Par A. BERGHEZAN et A. FOURDEUX. (Avec 6 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . 567
The direct observation of dislocations in bismuth telluride. By G. A. GEACH and R. PHILLIPS.
(With 3 Figures) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 571