Integrated circuit immunity modelling beyond 1 GHz

213 Pages·2016·11.13 MB·English

Integrated circuit immunity modelling beyond 1 GHz
Sjoerd Op ’T Land
To cite this version:
Sjoerd Op ’T Land. Integrated circuit immunity modelling beyond 1 GHz. Electromagnetism.
INSA de Rennes, 2014. English. <NNT : 2014ISAR0029>. <tel-01165061>
HAL Id: tel-01165061
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01165061
Submitted on 18 Jun 2015
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THESE INSA Rennes présentée par
sous le sceau de l’Université européenne de Bretagne Sjoerd OP ‘T LAND

pour obtenir le titre de
DOCTEUR DE L’INSA DE RENNES ECOLE DOCTORALE : MATISSE
Spécialité : Électronique et télécommunications LABORATOIRE : IETR INSA de Rennes - ESEO-EMC

Thèse Confidentielle jusqu’au 1er Juin 2015
La modélisation de Thèse soutenue le 20.06.2014
devant le jury composé de :

l’immunité des circuits Frank Leferink
Professeur Université de Twente, Pays-Bas / président
intégrés au-delà de 1 GHz Etienne Sicard

Professeur – INSA de Toulouse / rapporteur
Geneviève Duchamp
Professeure – Université de Bordeaux 1 / rapporteur
Jean-Luc Levant
Expert CEM – Atmel Nantes / examinateur
Richard Perdriau
Enseignant Chercheur HDR – ESEO Angers / Co-encadrant de thèse
Mohamed Ramdani
Enseignant Chercheur HDR – ESEO Angers / Co-directeur de thèse
M’hamed Drissi
Professeur – IETR INSA de Rennes / Directeur de thèse

La modélisation de l’immunité
des circuits intégrés au-delà de 1 GHz

Integrated Circuit Immunity Modelling
Beyond 1 GHz

Sjoerd OP ‘T LAND

En partenariat avec

Document protégé par les droits d’auteur
[sumus]quasinanos,gigantiumhumerisinsidentes,
utpossimuspluraeisetremotioravidere,
nonutiquepropriivisusacumine,auteminentiacorporis,
sedquiainaltumsubvenimuretextollimurmagnitudinegigantea
[weare]likedwarfsontheshouldersofgiants,
sothatwecanseemorethanthey,andthingsatagreaterdistance,
notbyvirtueofanysharpnessofsightonourpart,oranyphysical
distinction,
butbecausewearecarriedhighandraisedupbytheirgiantsize
[noussommes]desnainsassissurdesépaulesdegéants,
nousvoyonsplusdechosesetpluslointainesqu’eux,
cen’estpasàcausedelaperspicacitédenotrevue,nidenotre
grandeur,
c’estparcequenoussommesélevéspareux.
alsdwergen[zijnwij],gezetenopdeschoudersvanreuzen,
opdatweméérziendanzij,enverder,
nietdooronzeeigenscherpeblikofuitmuntendlichaam,
maaromdatwe,hoogopgetild,bovenhenuittorenen
BernardofChartres(12th century)
Résumé
La compatibilité électromagnétique (CEM) est l’aptitude des produits électroniques à
coexisterauniveauélectromagnétique.Danslapratique,c’estunetâchetrèscomplexe
que de concevoir des produits compatibles. L’arme permettant de concevoir des pro-
duitsbon-du-premier-coupestlamodélisation.Cettethèseétudiel’utilitéetlafaisabilité
delamodélisationdel’immunitédescircuitsintégrés(CI)au-delàde1GHz.
Silespistesdescircuitsimprimésdéterminentl’immunitérayonnéedecescircuits,
ilseraitpertinentdepouvoirprévoirl’efficacitédecouplageetdecomprendrecomment
elle découle du routage des pistes. Les solveurs full-wave sont lents et ne contribuent
pas à la compréhension. En conséquence, un modèle existant (la cellule de Taylor)
est modifié de manière à ce que son temps de calcul soit divisé par 100. De plus, ce
modèle modifié est capable de fournir une explication de la limite supérieure pour
le couplage d’une onde plane, rasante et polarisée verticalement vers une piste de
plusieurs segments, électriquement longue et avec des terminaisons arbitraires. Les
résultatsjusqu’à20GHzcorrèlentavecdessimulationsfull-waveàuneerreurabsolue
moyenne de 2,6dB près et avec des mesures en cellule GTEM (Gigahertz Transversale
Electromagnétique)àuneerreurabsoluemoyennede4,0dBprès.
Sil’immunitéconduitedesCIestintéressanteau-delàde1GHz,ilfautuneméthode
demesure,valableau-delàde1GHz.Actuellement,iln’yapasdeméthodenormalisée,
car la fréquence élevée fausse les observations faites avec la manipulation normali-
sée. Il est difficile de modéliser et de compenser le comportement de la manipulation
normalisée. Par conséquent, une manipulation simplifiée et sa méthode d’extraction
correspondantesontproposées,ainsiqu’unedémonstrationduprincipedegénération
automatique de la carte d’essai utilisée dans la manipulation simplifiée. Pour illus-
trerlaméthodesimplifiée,l’immunitéconduited’unrégulateurdetensionLM7805est
mesuréejusqu’à4,2GHz.
À part la tendance générale des fréquences qui montent, il y a peu de preuve
concrète qui étaye la pertinence de la modélisation de l’immunité conduite des CI au-
delà de 1GHz. Une simulation full-wave suggère que jusqu’à 10GHz, la plus grande
partiedel’énergierentredanslapuceàtraverslapiste.Parconcaténationdesmodèles
développésci-dessus,l’immunitérayonnéed’unepistemicro-rubanetd’unrégulateur
detensionLM7805estprédite.Bienquecemodèlenégligel’immunitérayonnéeduCI
i
ii Résumé
lui-même,laprédictioncorrèleavecdesmesuresencelluleGTEMàuneerreurabsolue
de2,1dBenmoyenne.
Cesexpériencessuggèrentquelaplusgrandepartiedurayonnemententredansun
circuitimpriméàtraverssespistes,bienau-delàde1GHz.Danscecas,lamodélisation
de l’immunité conduite au-delà de 1GHz serait utile. Par conséquent, l’extension jus-
qu’à10GHzdelaméthodedemesure CEI62132-4devraitêtreconsidérée.Deplus, la
vitesseetlatransparencedumodèledeTaylormodifiépourlecouplagechamp-à-ligne
permettentdesinnovationsdanslaconceptionassistéeparl’ordinateur.Lagénération
semi-automatique des cartes d’essais dites maigres pourrait faciliter l’extraction des
modèles.Certainesquestionscritiquesetimportantesdemeurentouvertes.
Motsclefs:EMC,IC,immunité,couplagechamp-à-piste,celluledeTaylor,DPI,ICIM-CI,
mesure,modélisation,simulation,GHz
Summary
ElectroMagneticCompatibility(EMC)isthefacultyofworkingdevicestoco-existelec-
tromagnetically. Inpractice,itturnsouttobeverycomplextocreateelectromagnetically
compatible devices. The weapon to succeed the complex challenge of creating First-
Time-Right (FTR) compatible devices is modelling. This thesis investigates whether
it makes sense to model the conducted immunity of Integrated Circuits (ICs) beyond
1GHzandhowtodothat.
IfthePrintedCircuitBoard(PCB)tracesdetermineaPCB’sradiatedimmunity,itis
interestingtopredicttheircouplingefficiencyandtounderstandhowthatdependson
the tracerouting. Becausefull-wave solversare slowand do notyield understanding,
theexistingTaylorcellmodelismodifiedtoyieldanother100 speedupandaninsight-
×
ful upper bound, for vertically polarised, grazing-incident plane wave illumination of
electricallylong, multi-segmenttraceswitharbitraryterminalloads. Theresultsupto
20GHz match with full-wave simulations to within 2.6dB average absolute error and
with Gigahertz Transverse Electromagnetic-cell (GTEM-cell) measurements to within
4.0dBaverageabsoluteerror.
IftheconductedimmunityofICsisinterestingabove1GHz,ameasurementmethod
is needed that is valid beyond 1GHz. There is no standardised method yet, because
withrisingfrequency,thecommonmeasurementset-upincreasinglyobscurestheIC’s
immunity. An attempt to model and remove the set-up’s impact on the measurement
resultproveddifficult. Therefore,asimplifiedset-upandextractionmethodisproposed
and a proof-of-concept of the automatic generation of the set-up’s PCB is given. The
conducted immunity of an LM7805 voltage regulator is measured up to 4.2GHz to
demonstratethemethod.
Except for a general trend of rising frequencies, there is only little concrete proof
for the relevance of IC immunity modelling beyond 1GHz. A full-wave simulation
suggests that up to 10GHz, most energy enters the die via the trace. Similarly, the
radiatedimmunityofamicrostriptraceandanLM7805voltageregulatorispredictedby
concatenatingthemodelsdevelopedabove. Althoughthismodelneglectstheradiated
immunityoftheICitself, thepredictioncorrespondswithGTEM-cellmeasurementto
within2.1dBaverageabsoluteerror.
TheseexperimentssuggestthemostradiationentersaPCBviaitstraces,wellbeyond
1GHz,henceitisusefultomodeltheconductedimmunityofICsbeyond1GHz. There-
iii
iv Summary
fore,theextensionofIEC62132-4to10GHzshouldbeseriouslyconsidered. Moreover,
the speed and transparency of the modified Taylor model for field-to-trace coupling
open up new possibilities for computer-aided design. The semi-automatic generation
ofleanextractionPCBcouldfacilitatemodelextraction. Therearealsocriticalremain-
ingquestions,remainingtobeanswered.
Keywords: EMC,IC,immunity,field-to-tracecoupling,Taylorcell,DPI,ICIM-CI,mea-
surement,modelling,simulation,GHz
Contents
Résumé i
Summary iii
Contents v
Conventions vii
1 Introduction 1
1.1 EMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.2 Complexity. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.3 Industrialneed . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.4 Researchcontext . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.5 Thisthesis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2 Field-to-traceCoupling 13
2.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.2 StateoftheArt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.3 MeshedTaylorModel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.4 ModifiedTaylorModel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
2.5 Full-wavesimulation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
2.6 Measurement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
2.7 Conclusions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
3 ICConductedImmunity 89
3.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
3.2 StateoftheArt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
3.3 Modellingpassivecomponents . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
3.4 LeanMethod . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
3.5 Specialisation: SOIC8ExtractionPCB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
3.6 Casestudy: LM7805 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
3.7 Conclusions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
v