EMUM 20 81 Analiz Ücretleri

30 Pages·2017·1.85 MB·Turkish

by  Zihni Onur Uygun

EMUM 2018 Analiz Ücretler i
ANALİZ ADI BİRİM BİRİM FİYATI
XPS Analizi Adet 250.00 TL
XRD (Toz ve katı malzemeler için) pattern çekimi Adet 60.00 TL
XRD (İnce film malzemeler için) Adet 200.00 TL
XRD pattern çekimi sonrası faz analizi (Search match) Adet 150.00 TL
XRD (Tekstür analizi) Adet 600.00 TL
SEM-Numune hazırlama* Adet 75.00 TL
SEM İncelemesi Saat 250.00 TL
Yanmazlık (Alev geciktirme) testi, (UL 94 standardı) Adet 250.00 TL
ICP-OES numune hazırlama* Adet 50.00 TL
ICP-OES (Her bir element için) Element 60.00 TL
Nano partikül boyut ölçüm (Numune Hazırlama)* Adet 50.00 TL
Nano partikül boyut ölçümü (0.5 nm-10mikron arası) Adet 150.00 TL
Zeta potansiyeli (Numune Hazırlama)* Adet 50.00 TL
Zeta potansiyeli ölçümü Adet 150.00 TL
Nano öğütücü kullanım hizmeti Saat 250.00 TL
Nano indentasyon (Sertlik, Elestisite Modülü) 5 iz/numune 250.00 TL
AFM Saat 300.00 TL
o
DTA-TGA (Hava/Azot ortamında, max. 1000 C) Adet 150.00 TL
FT-IR Adet 100.00 TL
Spektrofotometre (absorbans, kırılma ve geçirgenlik) Adet 100.00 TL
Fotoluminesans (PL) (Emission, Excitation) ölçümü Adet 100.00 TL
Floresans Decay zaman ölçümü (piko, nano ve mikro
Adet 100.00 TL
saniye aralıklarında) (Nano and microsecond flash lamp)
VSM (Manyetik özellikler için) Adet 200.00 TL
HIP (1000-15000 psi arası) Saat 400.00 TL
HIP (15000-30000 psi arası) Saat 500.00 TL
CIP (Max. 60000 psi) Saat 200.00 TL
Üniversitelere, Tübitak, San-Tez, vb. projelere % 50 indirim uygulanır.
(*) işareti bulunan analizlere indirim uygulanmaz.
Fiyatlara KDV (%18) dahil değildir.
Analizlerin Türkçe ve İngilizce cihaz sorumlusu tarafından yorumlanması ekstra ücrete tabidir.
Analiz sonrası 90 gün içerisinde geri alınmayan numunelerin sorumluluğu merkezimize ait değildir.
Numune Kabul ve başvuru:
Cesim Narmanoğlu
Tel: [phone] Sekreterlik Tel: [phone]
E-posta: [email protected] [email protected]
X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Thermo Scientific Al K-Alpha
Cihaz hakkında: X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak
atomik ve moleküler bilgi sağlanması amacıyla kullanılan sayısal bir analiz tekniğidir. Çekirdek
seviyelerinin incelenmesi ve bunu takiben yayılan çekirdek fotoelektronların analiz edilmesiyle
numune yüzeyinin bileşimi ve elektrostatik seviyesi hakkında bilgi verir. XPS tüm katı
yüzeylerin elementel (H ve He hariç) ve kimyasal hal bilgisinin analizi için kullanılabilir.
Yüzeyden 10 nm’ lik bir derinlikte veri alarak elementel ve kimyasal analiz gerçekleştirir.
Aşağıdaki soruların cevabını bize sağlar;
Numune yüzeyinde hangi elementler bulunuyor?
Bu elementlerin hangi seviyeleri mevcut?
Farklı seviyelerde bulunan farklı elementlerden ne kadar mevcut?
Malzemelerin üç boyuttaki dağılımı nedir?
Malzeme yüzeyde ince bir tabaka halinde mevcut ise, derinliğe bağlı her katmandaki
elementel durum nedir?
Film kalınlığı düzenli mi? Filmin kimyasal bileşimi düzenli mi?
Uygulama Alanları:
XPS saf ve uygulamalı tüm bilim dallarında- bunun yanı sıra sorun giderme ve kalite güvence
amaçlı- yaygın olarak kullanılmaktadır. En çok kullanılan uygulama alanları bazı ana
başlıklar altında toplanabilir.
• Metaller ve alaşımların yüzeylerinin mikroanalizi
• Mineral yüzey çalışmaları
• Polimer çalışmaları
• Tıbbi amaçlı kullanılan malzemelerinin analizi
• Çimento ve beton yüzeyleri çalışmaları
• Temel atomik fizik çalışmaları
Cihaz Bilgileri:
Analyzer: 180° double focusing hemispherical analyzer with 128-channel detector
X-ray source: Al-Ka micro-focused monochromator with variable spot size (30-400µm in
5µm steps)
Ion Gun: Energy Ranges (100-4000eV)
Charge Compensation: Dual beam source
Vacuum System: 2x 260L/s turbo molecular pumps for entry and analysis chambers
Analyze modes: Point Analysis (General + Partial), Linear Analysis, Mapping and Depth
Profiling
Örnek Teslim Şartları:
• Numune Tutucu: 4-eksenli örnek tutucu, 60x60mm örnek alanı, 20mm maksimum
numune kalınlığı
• Numunelere asla el değmemeli ve temiz olmalıdır. Aksi takdirde cihazda kirlilik tespit
edilebilir. Bu da sonuçlarınızı değiştirebilir.
• Toz numunelerin miktarı minimum 5 mm çapındaki bir alanı dolduracak seviyede
olmalıdır.
*Numuneler kesinlikle nem içermemelidir !!!
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
X-ışını Difraktometresi (XRD)

Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Thermo Scientific ARL K-Alpha
Cihaz hakkında: X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik
dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına
dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri nicel olarak o kristali tanımlar. X-Işını
Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki
numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. XRD cihazıyla numunelerin kırınım
profilleri ile birlikte faz analizi (search match) ve tekstür analizleri de yapılabilmektedir.

Uygulama Alanları:

• Toz, bulk ve ince film kaplamaların kırınım profillerinin çıkarılmasında,
• Minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında,
• Metal ve alaşım analizlerinde,
• Polimerlerin analizinde,
• Kırınım profili çıkarılan numune için fazların belirlenmesinde,
• Polikristal katı malzemelerde tekstür analizi ile kristallerin tercihli yönlenmelerinin
belirlenmesinde kullanılır.
Cihaz Bilgileri:
Angular resolution: <0.04o FWHM
X-ray source: Cu-Kα
Normal scan speed: (0.1° 2θ/s)

Örnek Teslim Şartları:
• Toz numunelerin miktarı minimum 5 mm çapındaki bir alanı dolduracak seviyede ince
öğütülmüş şekilde (min. 100-150 mg) olmalıdır.
• İnce film ve katı malzeme örnekleri, min 0.5x0.5 cm - max. 2x2 cm boyutlarında
olmalı, maksimum numune kalınlığı 7 mm olmalıdır.

Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)

Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: COXEM EM-30 Plus Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Cihaz hakkında: SEM görüntüsü, yüksek voltaj ile hızlandırılmış elektronların, yüksek vakum
ortamında, numune üzerine odaklanması, bu elektron demetinin numune yüzeyinde taratılması
sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli etkileşimler sonucunda oluşan
ürünlerin uygun algılayıcılarda toplanması ve sonuç olarak ekrana aktarılmasıyla elde edilir.
SEM analizlerinde temel olarak algılanan ürünler ikincil elektronlar (secondary electrons, SE)
olarak tanımlanır. İkincil elektronlar numune yüzeyinin 10 nm veya daha düşük derinlikten
geldiği için numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsünün elde edilmesinde
kullanılır. İkincil elektronların yanında geri saçılan elektronlar (BSE), karakteristik X-ışınları,
ışık (katot ışını) (CL), numune akımı ve aktarılan elektronlarla da numuneden çeşitli sinyaller
elde edilerek amaca uygun topografi ve kompozisyon analizleri yapılır. Ayrıca cihazda bulunan
düşük vakum moduyla kaplama yapılmamış yalıtkan örnekler, polimerler, cam örneklerin
analizi yapılabilmektedir.
Uygulama Alanları:
• Doğal kaynakların morfolojisini araştırma uygulamaları,
• Malzemelerin sahip olduğu kusurların ve aşınma özelliklerinin saptanması,
• Malzemelerin yüzey özellikleri, kaplama kalınlığı, partikül boyutu, morfolojisi gibi
özelliklerin belirlenmesinde kullanılır,
• İmal edilen bileşenlerin rutin analizler sonucunda kalite standartlarına ve dayanıklılık
gereksinimlerine uyup uymadığının araştırılması,

Cihaz Bilgileri:
Magnification: x20 ~ x150,000 (Effective :~ x80,000)
Accelerating Voltage: 1kV to 30kV
Electron Gun: Tungsten Filament(w)
Detector: SE Detector, BSE Detector
Maxium Sample Size: 45mm (H), 60mm (Diameter)
Vacuum System:· Turbo molecular pump (less than 3min), low vacuum mode

Örnek Teslim Şartları:
• Toz numuneler minimum 30 mg olmalıdır.
• Numunelerin iletken yada yalıtkan olduğu belirtilmelidir.
• Numuneler nem içermemelidir.
• Katı numune ve ince film numune boyutları max 3x3 cm, yüksekliği de max 2 cm
olmalıdır.

Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Diferansiyel Termal Analiz – Termogravimetrik Analiz Sistemi
(DTA-TGA)

Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Perkin Elmer STA 6000 Diferansiyel Termal Analiz – Termogravimetrik
Analiz Cihazı
Cihaz hakkında: Termal Analiz yöntemi, malzemelerin fiziksel özelliklerinin sıcaklığa bağlı
olarak değişiminin incelendiği bir yöntemdir. Termal Analiz, malzemelerin kontrollü bir
şekilde ısıtılarak, malzemelerin fiziksel özelliklerinde (ağırlık, absorplanan ya da açığa çıkan
ısı vs.) meydana gelen değişimin sıcaklığın bir fonksiyonu olarak ölçüldüğü yöntemleri içerir.
DTA-TGA sisteminde numune ve referans arasındaki sıcaklık farkını ve ağırlık değişimini eş
zamanlı olarak ölçmeye yarayan bir sistemdir. Sıcaklık farklılıkları, numunedeki sıcaklığın
değişimiyle meydana gelen endotermik ve/veya ekzotermik reaksiyonlar sonucunda
oluşmaktadır. TGA-DTA cihazı ile değişik malzemelerin erime, camsı geçiş sıcaklığı,
süblimleşme sıcaklıkları, kütle kaybı/kazancı, faz değişimi ve oksitlenme gibi özellikleri
belirlenebilir.

Uygulama Alanları:
• Toz ve katı malzemelerdeki ağırlık kaybı,
• Bozulma sıcaklığı tayini,
• Ekzotermik/endotermik reaksiyonların belirlenmesi,
• Reaksiyonlarda meydana gelen entalpi değişimi,
• Polimerlerde camsı geçiş sıcaklığının belirlenmesi,
• Diferansiyel termogravimetrik analiz eğrisinin çıkarılması.

Cihaz Bilgileri:
Sensor: Pure platinum pan holder and reference ring
Balance resolution: 0.1 µg
Temperature range: Room temperature to 1000 oC
Heating rate: 0.1 to 100 oC/min
Sample pans: Alumina 180 µl

Örnek Teslim Şartları:
• Toz numunelerin miktarı minimum 5-15 mg arasında olmalıdır.
• Katı malzeme örnekleri, max 3x3 mm boyutlarında olmalı, maksimum numune
kalınlığı 3 mm olmalıdır (toz halinde olmaları tercih edilir).
• Analizin gerçekleştirileceği atmosfer ortamı (Azot/Hava) ve sıcaklık belirtilmelidir.

Fiyat Listesi için Tıklayınız.
FOURİER DÖNÜŞÜMLÜ KIZILÖTESİ SPEKTROSKOPİSİ (FT-IR)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Thermo scientific NICOLET iS10
Cihaz hakkında: Infrared (IR) spektroskopisi; moleküllerdeki çeşitli bağların titreşim
frekanslarını ölçer ve moleküldeki fonksiyonel gruplar hakkında bilgi verir. İnfrared
spektroskopisinin en çok kullanıldığı alan organik bileşiklerin tanımlanmasıdır; bu maddelerin
spektrumlarında çok sayıda maksimum ve minimumların olduğu absorbsiyon bantları bulunur
ve bunlar maddelerin birbirleriyle kıyaslanmasına olanak verir.
Aşağıdaki soruların cevabını bize sağlar;
1) Organik bileşiklerin yapısındaki fonksiyonel gruplar nelerdir?
2) Yapısı bilinmeyen iki organik bileşik aynı mıdır?
Uygulama Alanları:
Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FT-IR) çeşitli alanlarda daha çok nitel analiz
ve karakterizasyon çalışmaları için kullanılmakla beraber nicel analiz için de kullanılan bir
yöntemdir.
• Organik bileşiklerin yapısının aydınlatılmasında
• Karbohidrat, fosfolipit, aminoasit ve proteinlerin yapı analizlerinde
• Polimerler ve Plastiklerin karakterizasyonunda
• Farmasötik bileşiklerin yapılarının aydınlatılmasında
Cihaz Bilgileri:
Spektrum Aralığı: 7800-350 cm-1 optimized, mid-infrared KBr beamsplitter
11000-375 cm-1 XT KBr extended range mid-infrared optics